Q-Tech Spotlight – Distelsamen unter dem CT

Was verbirgt sich im Inneren eines Distelsamens? Faszinierende CT-Aufnahmen zeigen Natur in höchster Auflösung.

Q-Tech Spotlight – Wenn Natur auf High-Tech trifft: Totenkopf im Bambus

Bambus im CT-Scan: Erstaunliche Strukturen und verborgene Formen in der Natur, sichtbar gemacht durch Computertomographie.

Wie prüfst du Baugruppen ohne Zerstörung? CT-Scan Elektronik

LED-Tannenbaum im CT-Scan: Lötfehler, Verbindungsprobleme, Platinen-Analyse ohne Zerlegung.

Q-Tech Spotlight – Defektanalyse: Luftblasen, Risse & Materialfehler

CT-Scan Defektanalyse: Verborgene Materialfehler sichtbar machen – zerstörungsfrei und präzise.

Q-Tech Spotlight: Industrielle CT-Analyse & Prüftechnologie

Intro zur Q-Tech Spotlight Serie: Einblicke in zertifizierte, zerstörungsfreie Bauteilanalyse.

Fachvorträge & Praxis

Expertenwissen aus Vorträgen, Events und praktischen Anleitungen für den Messraum.

Q-Tech Days 2025 – Rückblick | Messtechnik zum Anfassen

Rückblick auf die Q-Tech Days 2025 mit ZEISS und MAHR: Live-Demos, CT-Analyse und Messtechnik-Praxis in Roding.

Messunsicherheit verstehen – Fachvortrag Dr. Imkamp bei den Q-Tech Days 2025

Fachvortrag von Dr. Dietrich Imkamp (ZEISS IQS) über Messunsicherheit, MPE, Capability und Eignung mit praxisnahen Beispielen.